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          硅片測厚儀

          簡要描述:CHY-CU硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

          • 產品型號:CHY-CU
          • 廠商性質:生產廠家
          • 更新時間:2024-07-30
          • 訪  問  量:1163

          詳細介紹

          品牌其他品牌產地類別國產
          應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,文體,印刷包裝,制藥

          CHY-CU硅片測厚儀測試原理

          機械接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測量頭自動降落于試樣之上,在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。

          測試應用

          薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片等材料的測試

          CHY-CU硅片測厚儀產品特征

          PLC控制,人機界面操作,穩(wěn)定,準確,簡單,直觀

          嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制

          測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

          實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據

          系統(tǒng)支持數據實時顯示、自動統(tǒng)計、儲存、打印等許多實用功能

          主機程序可按照要求定制

          微型打印機方便測試結果快捷輸出

          標準的RS232接口,專業(yè)軟件(可選)

          技術參數

          測試范圍 0~2 mm(標配)

          分辨率   0.1 μm

          測量速度 10 次/min (可調)

          測量壓力  0.3N

          測量頭   弧面曲率半徑15mm

          尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

          重量:35kg

          產品配置

          標準配置:主機、標準量塊一件、微型打印機

          選購件:專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼

          測試標準

          該設備滿足多項國家和標準:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547 

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